Zurück zur Liste
Polarisationsmikroskopie: Schieferige Textur in Tonschiefer und Phyllit

Polarisationsmikroskopie: Schieferige Textur in Tonschiefer und Phyllit

8.230 0
0 1
CSR-Makro

CSR-Makro


Premium (Complete), Deutschland

Polarisationsmikroskopie: Schieferige Textur in Tonschiefer und Phyllit

Vergleich der schieferigen Textur in Tonschiefer (oben) und Phyllit (unten).
Gesteinsdünnschliff (25 µm Dicke); 50fache Vergrößerung, einfach linear polarisiertes Licht.
Alte "Sammlung von 45 Dünnschliffen zur Erläuterung der Struktur und Textur der Gesteine"; zusammengestellt nach Rosenbusch, bearbeitet von Prof. Dr. A. Osann (1923); Dr. F. Krantz, Rheinisches Mineralien-Kontor, Schliffe Nr. 35 (oben) und 36 (unten).
Fundorte: Tonschiefer - Nuttlar, Westfalen; Phyllit - Glauchau, Sachsen.

Kommentare 0

Galerie vorschl.

Schlagwörter

reportage dokumentation sonstiges steine & mineralien wissenschaft natur-kreativ aufnahmetechniken mikroskop-aufnahmen gesteinsdünnschliffe natur motive polarisationsmikroskopie dünnschliff thin section optical mineralogy gesteinsdünnschliff tonschiefer phyllit schieferige textur

Weitere Fotos von CSR-Makro

Informationen

Sektionen Motive: Wissenschaft Natur: Steine & Mineralien Natur: Mikroskop-Aufnahmen
Ordner Gesteinsdünnschliffe
Views 8.230
Veröffentlicht
Sprache
Lizenz

Gelobt von