Zeughaus-Anbau (I.M. Pei) 2
Dies ist eine Detailaufnahme des Zeughausanbaues in Berlin von Architekt Ieoh Ming Pei.
Aufnahme: Nikon F80, Dia-Film in C41-Verfahren entwickelt, eingescannt
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Informationen
| Sektion | Motive: Fassaden |
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Iris R. 2. Mai 2004, 13:57
die farben sind genial!ich liebe das...
perspektive und himmel sind sehr beeindruckend.
lg, iris
Sebastian Leisering 2. Mai 2004, 13:56
Ja stimmt das Bild wurde durch das Scannen etwas dunkler.F Art 2. Mai 2004, 13:51
Perspektive und Farben sind klasse. Aber sehr flau vom Scan her. Vielleicht etwas nachbearbeiten, denn das Originalbild ist bestimmt besser, oder?VG, FArt